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分體式涂層測(cè)厚儀Leeb232

分體式涂層測(cè)厚儀Leeb232

簡(jiǎn)要描述:
分體式涂層測(cè)厚儀Leeb232采用磁性和電渦流兩種測(cè)量方法,可檢測(cè)磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋼鐵合金和硬磁性鋼上的鋁、鉻、銅、鋅、錫、橡膠、油漆等),以及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電的絕緣覆蓋層的厚度(如鋁、銅、鋅、錫上的橡膠、塑料、油漆、氧化膜等)。

更新時(shí)間:2024-01-05

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廠商性質(zhì):代理商

生產(chǎn)地址:

概述

分體式涂層測(cè)厚儀Leeb232采用磁性和電渦流兩種測(cè)量方法,可檢測(cè)磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋼鐵合金和硬磁性鋼上的鋁、鉻、銅、鋅、錫、橡膠、油漆等),以及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電的絕緣覆蓋層的厚度(如鋁、銅、鋅、錫上的橡膠、塑料、油漆、氧化膜等)。

分體式涂層測(cè)厚儀Leeb232應(yīng)用在電鍍、防腐、航天、航空、化工、汽車、造船、輕工、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。既可用于實(shí)驗(yàn)室,也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。配置不同的探頭,適用于不同場(chǎng)合。它是檢測(cè)行業(yè)重要的儀器。

主要功能

● 具有兩種測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量和單次測(cè)量方式;

● 具有兩種工作方式:直接和成組方式;

● 具有自動(dòng)統(tǒng)計(jì)功能:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV);

● 可采用單點(diǎn)校準(zhǔn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正;

● 存儲(chǔ)功能:可存4 個(gè)校正工件可保存。分2類工件,每類26組,每組15個(gè),共1560個(gè)測(cè)值;

● 刪除功能:對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除,也可刪除存儲(chǔ)區(qū)內(nèi)的數(shù)據(jù),以便進(jìn)行新的測(cè)量;

● 設(shè)置限界:對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警;

● 具有電源欠壓指示功能,操作過程有蜂鳴聲提示,自動(dòng)關(guān)機(jī)方式。

● 金屬外殼:機(jī)身材質(zhì)是航空鋁金屬外殼,防干擾磨損低。

技術(shù)參數(shù)

項(xiàng)目

Leeb 232

測(cè)頭類型

F1/N1

工作原理

磁感應(yīng)/電渦流

測(cè)量范圍

0~1250μm

低限分辨率

0.1μm

示值誤差

一點(diǎn)校準(zhǔn)

±(3%H+1)

二點(diǎn)校準(zhǔn)

±[(1~3%)H+1]

測(cè)試條件

最小曲率半徑mm

凸1.5mm、凹9mm

最小面積直徑mm

Φ7mm

基本臨界厚度mm

0.5mm

工作環(huán)境

溫度

0~40℃

濕度

20%~90%

電源

AA型堿性電池1.5V兩節(jié)

外形尺寸

130×70×25mm(主機(jī))

重量

350g

外殼材質(zhì)

金屬外殼

標(biāo)準(zhǔn)配置

主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)試片、鐵基體、堿性電池、磁性/渦流探頭

選配

標(biāo)準(zhǔn)試片、探頭、pc通訊

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